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  1. 紀要
  2. 第11巻

03.I_DDQを用いた劣化兆候の検出とその成長過程の挙動

http://hdl.handle.net/10173/1186
http://hdl.handle.net/10173/1186
b4c2d9c2-d318-48ac-a311-873ca40c65ac
名前 / ファイル ライセンス アクション
rb11_061-067.pdf rb11_061-067.pdf (75.7 MB)
Item type 紀要論文 / Departmental Bulletin Paper(1)
公開日 2014-06-30
タイトル
タイトル 03.I_DDQを用いた劣化兆候の検出とその成長過程の挙動
言語
言語 jpn
資源タイプ
資源タイプ識別子 http://purl.org/coar/resource_type/c_6501
資源タイプ departmental bulletin paper
著者 眞田, 克

× 眞田, 克

眞田, 克

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著者別名
識別子Scheme WEKO
識別子 4484
姓名 SANADA, Masaru
内容記述
内容記述タイプ Other
内容記述 テクノロジー(招待論文)
書誌情報 高知工科大学紀要

巻 11, 号 1, p. 61-67, 発行日 2014-07-20
ISSN
収録物識別子タイプ ISSN
収録物識別子 1348-4842
書誌レコードID
収録物識別子タイプ NCID
収録物識別子 AA11954573
著者版フラグ
出版タイプ VoR
出版タイプResource http://purl.org/coar/version/c_970fb48d4fbd8a85
その他のタイトル
その他のタイトル Detection of Deterioration Signs and Behavior of Degradation Growth Process of LSI by IDDQ
出版者
出版者 高知工科大学
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Ver.1 2023-05-15 13:03:47.902692
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