WEKO3
アイテム
03．I_DDQを用いた劣化兆候の検出とその成長過程の挙動
http://hdl.handle.net/10173/1186
http://hdl.handle.net/10173/1186b4c2d9c2-d318-48ac-a311-873ca40c65ac
| 名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
|---|---|---|
rb11_061-067.pdf (75.7 MB)
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| Item type | 紀要論文 / Departmental Bulletin Paper(1) | |||||
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| 公開日 | 2014-06-30 | |||||
| タイトル | ||||||
| タイトル | 03．I_DDQを用いた劣化兆候の検出とその成長過程の挙動 | |||||
| 言語 | ||||||
| 言語 | jpn | |||||
| 資源タイプ | ||||||
| 資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_6501 | |||||
| 資源タイプ | departmental bulletin paper | |||||
| 著者 |
眞田, 克
× 眞田, 克 |
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| 著者別名 | ||||||
| 識別子Scheme | WEKO | |||||
| 識別子 | 4484 | |||||
| 姓名 | SANADA, Masaru | |||||
| 内容記述 | ||||||
| 内容記述タイプ | Other | |||||
| 内容記述 | テクノロジー（招待論文） | |||||
| 書誌情報 |
高知工科大学紀要 巻 11, 号 1, p. 61-67, 発行日 2014-07-20 |
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| ISSN | ||||||
| 収録物識別子タイプ | ISSN | |||||
| 収録物識別子 | 1348-4842 | |||||
| 書誌レコードID | ||||||
| 収録物識別子タイプ | NCID | |||||
| 収録物識別子 | AA11954573 | |||||
| 著者版フラグ | ||||||
| 出版タイプ | VoR | |||||
| 出版タイプResource | http://purl.org/coar/version/c_970fb48d4fbd8a85 | |||||
| その他のタイトル | ||||||
| その他のタイトル | Detection of Deterioration Signs and Behavior of Degradation Growth Process of LSI by IDDQ | |||||
| 出版者 | ||||||
| 出版者 | 高知工科大学 | |||||
