WEKO3
アイテム / Analysis of Hump Characteristics in Thin-Film Transistors with ZnO Channels Deposited by Sputtering at Various Oxygen Partial Pressures / IEEE_EDL_31_11_1257
IEEE_EDL_31_11_1257
| ファイル | ライセンス |
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IEEE_EDL_31_11_1257.pdf (327.1 kB)
sha256
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| 公開日 | 2019-02-13 | |||||
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| ファイル名 | IEEE_EDL_31_11_1257.pdf | |||||
| 本文URL | https://kutarr.kochi-tech.ac.jp/record/184/files/IEEE_EDL_31_11_1257.pdf | |||||
| ラベル | IEEE_EDL_31_11_1257.pdf | |||||
| フォーマット | application/pdf | |||||
| サイズ | 327.1 kB | |||||
| Version | Date Modified | Object File Name | File Size | File Hash Value | Contributor Name | Show/非表示 |
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