WEKO3
アイテム / Analysis of Hump Characteristics in Thin-Film Transistors with ZnO Channels Deposited by Sputtering at Various Oxygen Partial Pressures / IEEE_EDL_31_11_1257
IEEE_EDL_31_11_1257
| ファイル | ライセンス |
|---|---|
 IEEE_EDL_31_11_1257.pdf (327.1 kB)
sha256
0955229f449ee7cc53ac5dcbede4bc5ecf54e19ab6c6467ec26b35f2dbc5dc4c
|
| 公開日 | 2019-02-13 | |||||
|---|---|---|---|---|---|---|
| ファイル名 | IEEE_EDL_31_11_1257.pdf | |||||
| 本文URL | https://kutarr.kochi-tech.ac.jp/record/184/files/IEEE_EDL_31_11_1257.pdf | |||||
| ラベル | IEEE_EDL_31_11_1257.pdf | |||||
| フォーマット | application/pdf | |||||
| サイズ | 327.1 kB | |||||
| Version | Date Modified | Object File Name | File Size | File Hash Value | Contributor Name | Show/Hide |
|---|