WEKO3
アイテム / Thermal analysis of amorphous oxide thin-film transistor degraded by combination of joule heating and hot carrier effect / APL_102_053506
APL_102_053506
ファイル | ライセンス |
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APL_102_053506.pdf (2.0 MB) sha256 87b1c426caaff03b2cf3bdf142a025592f53e8025647248d2b7cc3140f3b2704 |
公開日 | 2013-03-15 | |||||
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ファイル名 | APL_102_053506.pdf | |||||
本文URL | https://kutarr.kochi-tech.ac.jp/record/185/files/APL_102_053506.pdf | |||||
ラベル | APL_102_053506.pdf | |||||
フォーマット | application/pdf | |||||
サイズ | 2.0 MB |
Version | Date Modified | Object File Name | File Size | File Hash Value | Contributor Name | Show/Hide |
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