WEKO3
アイテム
硬 X 線光電子分光法による不純物添加 ZnO 薄膜のドーパント評価
https://doi.org/10.32149/00002372
https://doi.org/10.32149/000023722a0d359f-c1ba-4474-8b2f-b3f113a564cd
| 名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
|---|---|---|
m_1235121.pdf (2.7 MB)
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| Item type | 学位論文 / Thesis or Dissertation(1) | |||||
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| 公開日 | 2022-03-01 | |||||
| タイトル | ||||||
| タイトル | 硬 X 線光電子分光法による不純物添加 ZnO 薄膜のドーパント評価 | |||||
| 言語 | ||||||
| 言語 | jpn | |||||
| 資源タイプ | ||||||
| 資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_46ec | |||||
| 資源タイプ | thesis | |||||
| ID登録 | ||||||
| ID登録 | 10.32149/00002372 | |||||
| ID登録タイプ | JaLC | |||||
| 著者 |
武田, 樹
× 武田, 樹 |
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| 書誌情報 | 発行日 2021-03 | |||||
| その他のタイトル | ||||||
| その他のタイトル | Characterization of impurity-doped ZnO thin films by hard X-ray photoelectron spectroscopy | |||||
| 出版者 | ||||||
| 出版者 | 高知工科大学 | |||||
| アドバイザー | ||||||
| 値 | 牧野 久雄 | |||||
