WEKO3
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硬 X 線光電子分光法による不純物添加 ZnO 薄膜のドーパント評価
https://doi.org/10.32149/00002372
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名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
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Item type | 学位論文 / Thesis or Dissertation(1) | |||||
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公開日 | 2022-03-01 | |||||
タイトル | ||||||
タイトル | 硬 X 線光電子分光法による不純物添加 ZnO 薄膜のドーパント評価 | |||||
言語 | ||||||
言語 | jpn | |||||
資源タイプ | ||||||
資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_46ec | |||||
資源タイプ | thesis | |||||
ID登録 | ||||||
ID登録 | 10.32149/00002372 | |||||
ID登録タイプ | JaLC | |||||
著者 |
武田, 樹
× 武田, 樹 |
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書誌情報 | 発行日 2021-03 | |||||
その他のタイトル | ||||||
その他のタイトル | Characterization of impurity-doped ZnO thin films by hard X-ray photoelectron spectroscopy | |||||
出版者 | ||||||
出版者 | 高知工科大学 | |||||
アドバイザー | ||||||
牧野 久雄 |