WEKO3
アイテム
硬 X 線光電子分光法による不純物添加 ZnO 薄膜のドーパント評価
https://doi.org/10.32149/00002372
https://doi.org/10.32149/000023722a0d359f-c1ba-4474-8b2f-b3f113a564cd
名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
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m_1235121.pdf (2.7 MB)
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Item type | 学位論文 / Thesis or Dissertation(1) | |||||||
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公開日 | 2022-03-01 | |||||||
タイトル | ||||||||
タイトル | 硬 X 線光電子分光法による不純物添加 ZnO 薄膜のドーパント評価 | |||||||
言語 | ||||||||
言語 | jpn | |||||||
資源タイプ | ||||||||
資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_46ec | |||||||
資源タイプ | thesis | |||||||
ID登録 | ||||||||
ID登録 | 10.32149/00002372 | |||||||
ID登録タイプ | JaLC | |||||||
著者 |
武田, 樹
× 武田, 樹
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書誌情報 | 発行日 2021-03 | |||||||
その他のタイトル | ||||||||
その他のタイトル | Characterization of impurity-doped ZnO thin films by hard X-ray photoelectron spectroscopy | |||||||
出版者 | ||||||||
出版者 | 高知工科大学 | |||||||
アドバイザー | ||||||||
牧野 久雄 |