WEKO3
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{"_buckets": {"deposit": "e285c310-1ab2-47dc-af52-6660f832d0a8"}, "_deposit": {"created_by": 2, "id": "437", "owners": [2], "pid": {"revision_id": 0, "type": "depid", "value": "437"}, "status": "published"}, "_oai": {"id": "oai:kutarr.kochi-tech.ac.jp:00000437", "sets": ["6"]}, "author_link": ["1666"], "item_4_alternative_title_20": {"attribute_name": "その他のタイトル", "attribute_value_mlt": [{"subitem_alternative_title": "Practical Use of Tacit Knowledge of DANKAI-Generation Engineers -An analysis of tacit knowledge in semiconductor reliability field-"}]}, "item_4_biblio_info_7": {"attribute_name": "書誌情報", "attribute_value_mlt": [{"bibliographicIssueDates": {"bibliographicIssueDate": "2009-09", "bibliographicIssueDateType": "Issued"}, "bibliographic_titles": [{}]}]}, "item_4_description_5": {"attribute_name": "内容記述", "attribute_value_mlt": [{"subitem_description": "高知工科大学博士(学術) 平成21年9月30日授与 (甲第169号)", "subitem_description_type": "Other"}]}, "item_4_description_6": {"attribute_name": "引用", "attribute_value_mlt": [{"subitem_description": "高知工科大学, 博士論文.", "subitem_description_type": "Other"}]}, "item_4_dissertation_number_66": {"attribute_name": "学位授与番号", "attribute_value_mlt": [{"subitem_dissertationnumber": "26402甲第169号"}]}, "item_4_text_37": {"attribute_name": "アドバイザー", "attribute_value_mlt": [{"subitem_text_value": "若木,宏一"}]}, "item_4_version_type_17": {"attribute_name": "著者版フラグ", "attribute_value_mlt": [{"subitem_version_resource": "http://purl.org/coar/version/c_ab4af688f83e57aa", "subitem_version_type": "AM"}]}, "item_creator": {"attribute_name": "著者", "attribute_type": "creator", "attribute_value_mlt": [{"creatorNames": [{"creatorName": "宮本, 和俊"}], "nameIdentifiers": [{"nameIdentifier": "1666", "nameIdentifierScheme": "WEKO"}]}]}, "item_files": {"attribute_name": "ファイル情報", "attribute_type": "file", "attribute_value_mlt": [{"accessrole": "open_date", "date": [{"dateType": "Available", "dateValue": "2019-02-13"}], "displaytype": "detail", "download_preview_message": "", "file_order": 0, "filename": "1108001481.pdf", "filesize": [{"value": "2.8 MB"}], "format": "application/pdf", "future_date_message": "", "is_thumbnail": false, "licensetype": "license_free", "mimetype": "application/pdf", "size": 2800000.0, "url": {"label": "1108001481.pdf", "url": "https://kutarr.kochi-tech.ac.jp/record/437/files/1108001481.pdf"}, "version_id": "f80356d9-8fc9-46cc-b16a-b5232f4598c8"}]}, "item_language": {"attribute_name": "言語", "attribute_value_mlt": [{"subitem_language": "jpn"}]}, "item_resource_type": {"attribute_name": "資源タイプ", "attribute_value_mlt": [{"resourcetype": "thesis", "resourceuri": "http://purl.org/coar/resource_type/c_46ec"}]}, "item_title": "団塊世代技術者の暗黙知の活用 –半導体信頼性技術分野での分析-", "item_titles": {"attribute_name": "タイトル", "attribute_value_mlt": [{"subitem_title": "団塊世代技術者の暗黙知の活用 –半導体信頼性技術分野での分析-"}]}, "item_type_id": "4", "owner": "2", "path": ["6"], "permalink_uri": "http://hdl.handle.net/10173/481", "pubdate": {"attribute_name": "公開日", "attribute_value": "2010-05-28"}, "publish_date": "2010-05-28", "publish_status": "0", "recid": "437", "relation": {}, "relation_version_is_last": true, "title": ["団塊世代技術者の暗黙知の活用 –半導体信頼性技術分野での分析-"], "weko_shared_id": -1}
団塊世代技術者の暗黙知の活用 –半導体信頼性技術分野での分析-
http://hdl.handle.net/10173/481
http://hdl.handle.net/10173/481a7b6ac69-14ba-40e5-9afb-dd26418c189a
名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
---|---|---|
![]() |
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Item type | 学位論文 / Thesis or Dissertation(1) | |||||
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公開日 | 2010-05-28 | |||||
タイトル | ||||||
タイトル | 団塊世代技術者の暗黙知の活用 –半導体信頼性技術分野での分析- | |||||
言語 | ||||||
言語 | jpn | |||||
資源タイプ | ||||||
資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_46ec | |||||
資源タイプ | thesis | |||||
著者 |
宮本, 和俊
× 宮本, 和俊 |
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内容記述 | ||||||
内容記述タイプ | Other | |||||
内容記述 | 高知工科大学博士(学術) 平成21年9月30日授与 (甲第169号) | |||||
引用 | ||||||
内容記述タイプ | Other | |||||
内容記述 | 高知工科大学, 博士論文. | |||||
書誌情報 | 発行日 2009-09 | |||||
著者版フラグ | ||||||
出版タイプ | AM | |||||
出版タイプResource | http://purl.org/coar/version/c_ab4af688f83e57aa | |||||
その他のタイトル | ||||||
その他のタイトル | Practical Use of Tacit Knowledge of DANKAI-Generation Engineers -An analysis of tacit knowledge in semiconductor reliability field- | |||||
アドバイザー | ||||||
若木,宏一 | ||||||
学位授与番号 | ||||||
学位授与番号 | 26402甲第169号 |