WEKO3
アイテム / Study on density of states in In-X-Zn-O (X=Sn, Ga) semiconductors and defect passivation methods for highly reliable thin-film transistors / 116600421278
116600421278
| ファイル | ライセンス |
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 116600421278.pdf (199.7 kB)
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| 公開日 | 2019-02-13 | |||||
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| ファイル名 | 116600421278.pdf | |||||
| 本文URL | https://kutarr.kochi-tech.ac.jp/record/573/files/116600421278.pdf | |||||
| ラベル | 審査結果の要旨 | |||||
| フォーマット | application/pdf | |||||
| サイズ | 199.7 kB | |||||
| Version | Date Modified | Object File Name | File Size | File Hash Value | Contributor Name | Show/Hide |
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