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アイテム / A study of degradation mechanism of In-Ga-Zn-O thin-film transistor under negative bias-illumination stress and positive bias stress for highly reliable display devices. / 116800411324
116800411324
| ファイル | ライセンス |
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116800411324.pdf (342.0 kB)
sha256
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| 公開日 | 2019-02-13 | |||||
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| ファイル名 | 116800411324.pdf | |||||
| 本文URL | https://kutarr.kochi-tech.ac.jp/record/581/files/116800411324.pdf | |||||
| ラベル | 論文内容の要旨 | |||||
| フォーマット | application/pdf | |||||
| サイズ | 342.0 kB | |||||
| Version | Date Modified | Object File Name | File Size | File Hash Value | Contributor Name | Show/非表示 |
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