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アイテム / A study of degradation mechanism of In-Ga-Zn-O thin-film transistor under negative bias-illumination stress and positive bias stress for highly reliable display devices. / 116800411324
116800411324
ファイル | ライセンス |
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116800411324.pdf (342.0 kB) sha256 d476b0b50436ff0262ff027c44098ec83c2983a26e3db7bc1100faa244fb98aa |
公開日 | 2016-01-05 | |||||
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ファイル名 | 116800411324.pdf | |||||
本文URL | https://kutarr.kochi-tech.ac.jp/record/581/files/116800411324.pdf | |||||
ラベル | 論文内容の要旨 | |||||
フォーマット | application/pdf | |||||
サイズ | 342.0 kB |
Version | Date Modified | Object File Name | File Size | File Hash Value | Contributor Name | Show/Hide |
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