WEKO3
アイテム / A study of degradation mechanism of In-Ga-Zn-O thin-film transistor under negative bias-illumination stress and positive bias stress for highly reliable display devices. / 116800421324
116800421324
ファイル | ライセンス |
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116800421324.pdf (200.7 kB) sha256 64db5eddd00c717968530482d2b425f0e63a3bb436f43ec6dc5c030de5d9aec0 |
公開日 | 2016-01-05 | |||||
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ファイル名 | 116800421324.pdf | |||||
本文URL | https://kutarr.kochi-tech.ac.jp/record/581/files/116800421324.pdf | |||||
ラベル | 審査結果の要旨 | |||||
フォーマット | application/pdf | |||||
サイズ | 200.7 kB |
Version | Date Modified | Object File Name | File Size | File Hash Value | Contributor Name | Show/Hide |
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