WEKO3
アイテム / A study of degradation mechanism of In-Ga-Zn-O thin-film transistor under negative bias-illumination stress and positive bias stress for highly reliable display devices. / 116800431324
116800431324
ファイル | ライセンス |
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116800431324.pdf (4.1 MB) sha256 095951684601e51812914b55fc0a0039af5cb39a0135f33cb9077814101ea7a1 |
公開日 | 2016-01-05 | |||||
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ファイル名 | 116800431324.pdf | |||||
本文URL | https://kutarr.kochi-tech.ac.jp/record/581/files/116800431324.pdf | |||||
ラベル | 博士論文全文 | |||||
フォーマット | application/pdf | |||||
サイズ | 4.1 MB |
Version | Date Modified | Object File Name | File Size | File Hash Value | Contributor Name | Show/Hide |
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