WEKO3
アイテム / A study of degradation mechanism of In-Ga-Zn-O thin-film transistor under negative bias-illumination stress and positive bias stress for highly reliable display devices. / 116800431324
116800431324
| ファイル | ライセンス |
|---|---|
116800431324.pdf (4.1 MB)
sha256
095951684601e51812914b55fc0a0039af5cb39a0135f33cb9077814101ea7a1
|
| 公開日 | 2019-02-13 | |||||
|---|---|---|---|---|---|---|
| ファイル名 | 116800431324.pdf | |||||
| 本文URL | https://kutarr.kochi-tech.ac.jp/record/581/files/116800431324.pdf | |||||
| ラベル | 博士論文全文 | |||||
| フォーマット | application/pdf | |||||
| サイズ | 4.1 MB | |||||
| Version | Date Modified | Object File Name | File Size | File Hash Value | Contributor Name | Show/非表示 |
|---|