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アイテム / DEVELOPMENT DESIGN OF BUILT-IN SELF-TEST FOR LSI CIRCUITS: TEST PATTERN GENERATION, OSCILLATION-BASED TESTING, AND CALIBRATION TECHNIQUE / 119800711989
119800711989
ファイル | ライセンス |
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119800711989.pdf (204.3 kB) sha256 ae274e3be9484ad995da0be84b01d26255c6793cb305e387ea3ffb9a5d489f14 |
公開日 | 2018-12-19 | |||||
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ファイル名 | 119800711989.pdf | |||||
本文URL | https://kutarr.kochi-tech.ac.jp/record/643/files/119800711989.pdf | |||||
ラベル | 論文内容の要旨 | |||||
フォーマット | application/pdf | |||||
サイズ | 204.3 kB |
Version | Date Modified | Object File Name | File Size | File Hash Value | Contributor Name | Show/Hide |
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