WEKO3
アイテム
DEVELOPMENT DESIGN OF BUILT-IN SELF-TEST FOR LSI CIRCUITS: TEST PATTERN GENERATION, OSCILLATION-BASED TESTING, AND CALIBRATION TECHNIQUE
http://hdl.handle.net/10173/1989
http://hdl.handle.net/10173/19891264880c-0251-4b61-a7db-4f61f7c537ac
| 名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
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博士論文全文 (9.9 MB)
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審査結果の要旨 (193.7 kB)
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論文内容の要旨 (204.3 kB)
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| Item type | 学位論文 / Thesis or Dissertation(1) | |||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 公開日 | 2018-12-19 | |||||||
| タイトル | ||||||||
| タイトル | DEVELOPMENT DESIGN OF BUILT-IN SELF-TEST FOR LSI CIRCUITS: TEST PATTERN GENERATION, OSCILLATION-BASED TESTING, AND CALIBRATION TECHNIQUE | |||||||
| 言語 | ||||||||
| 言語 | eng | |||||||
| 資源タイプ | ||||||||
| 資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_db06 | |||||||
| 資源タイプ | doctoral thesis | |||||||
| アクセス権 | ||||||||
| アクセス権 | open access | |||||||
| アクセス権URI | http://purl.org/coar/access_right/c_abf2 | |||||||
| 著者 |
WANNABOON, Chatchai
× WANNABOON, Chatchai
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| 引用 | ||||||||
| 内容記述タイプ | Other | |||||||
| 内容記述 | 高知工科大学, 博士論文. | |||||||
| 書誌情報 | 発行日 2018-09 | |||||||
| 著者版フラグ | ||||||||
| 出版タイプ | VoR | |||||||
| 出版タイプResource | http://purl.org/coar/version/c_970fb48d4fbd8a85 | |||||||
| 出版者 | ||||||||
| 出版者 | 高知工科大学 | |||||||
| アドバイザー | ||||||||
| 橘,昌良 | ||||||||
| 学位名 | ||||||||
| 学位名 | 博士（学術） | |||||||
| 学位授与機関 | ||||||||
| 学位授与機関識別子Scheme | kakenhi | |||||||
| 学位授与機関識別子 | 26402 | |||||||
| 学位授与機関名 | 高知工科大学 | |||||||
| 学位授与年月日 | ||||||||
| 学位授与年月日 | 2018-09-25 | |||||||
| 学位授与番号 | ||||||||
| 学位授与番号 | 甲第341号 | |||||||
