WEKO3
アイテム
高速イオンビームを用いた水素分析法の構築 : 強誘電体不揮発性メモリーの評価のために
http://hdl.handle.net/10173/112
http://hdl.handle.net/10173/112c6eab2a5-f56f-491f-9fbf-85f5ad5940c7
| 名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
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| Item type | 紀要論文 / Departmental Bulletin Paper(1) | |||||||||||
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| 公開日 | 2007-08-21 | |||||||||||
| タイトル | ||||||||||||
| タイトル | 高速イオンビームを用いた水素分析法の構築 : 強誘電体不揮発性メモリーの評価のために | |||||||||||
| 言語 | ||||||||||||
| 言語 | jpn | |||||||||||
| 資源タイプ | ||||||||||||
| 資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_6501 | |||||||||||
| 資源タイプ | departmental bulletin paper | |||||||||||
| 著者 |
綿森, 道夫
× 綿森, 道夫
× 金子, 哲弥
× 加納, 剛太
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| 書誌情報 |
高知工科大学紀要 巻 1, 号 1, p. 100-109, 発行日 2004-03-31 |
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| ISSN | ||||||||||||
| 収録物識別子タイプ | ISSN | |||||||||||
| 収録物識別子 | 1348-4842 | |||||||||||
| 書誌レコードID | ||||||||||||
| 収録物識別子タイプ | NCID | |||||||||||
| 収録物識別子 | AA11954573 | |||||||||||
| 著者版フラグ | ||||||||||||
| 出版タイプ | VoR | |||||||||||
| 出版タイプResource | http://purl.org/coar/version/c_970fb48d4fbd8a85 | |||||||||||