WEKO3
アイテム
基板バイアス効果とショート抵抗の導入による診断精度の向上 －電圧値ベースによる故障診断への適用－
http://hdl.handle.net/10173/441
http://hdl.handle.net/10173/441c296d246-5ac7-4f32-92a2-c7f49d9921d1
| 名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
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rb6_097-103.pdf (1.1 MB)
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| Item type | 紀要論文 / Departmental Bulletin Paper(1) | |||||||
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| 公開日 | 2009-08-31 | |||||||
| タイトル | ||||||||
| タイトル | 基板バイアス効果とショート抵抗の導入による診断精度の向上 －電圧値ベースによる故障診断への適用－ | |||||||
| 言語 | ||||||||
| 言語 | jpn | |||||||
| 資源タイプ | ||||||||
| 資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_6501 | |||||||
| 資源タイプ | departmental bulletin paper | |||||||
| 著者 |
眞田, 克
× 眞田, 克
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| 著者別名 | ||||||||
| 識別子Scheme | WEKO | |||||||
| 識別子 | 3897 | |||||||
| 姓名 | Sanada, Masaru | |||||||
| 書誌情報 |
高知工科大学紀要 巻 6, 号 1, p. 97-103, 発行日 2009-06-29 |
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| ISSN | ||||||||
| 収録物識別子タイプ | ISSN | |||||||
| 収録物識別子 | 1348-4842 | |||||||
| 書誌レコードID | ||||||||
| 収録物識別子タイプ | NCID | |||||||
| 収録物識別子 | AA11954573 | |||||||
| 著者版フラグ | ||||||||
| 出版タイプ | VoR | |||||||
| 出版タイプResource | http://purl.org/coar/version/c_970fb48d4fbd8a85 | |||||||
| その他のタイトル | ||||||||
| その他のタイトル | Improvement of Diagnosis Accuracy by Short Fault with Substrate Bias Effect and Resistance Value - Application of Voltage based Fault Diagnosis Technology - | |||||||
| 出版者 | ||||||||
| 出版者 | 高知工科大学 | |||||||
