WEKO3
アイテム
基板バイアス効果とショート抵抗の導入による診断精度の向上 -電圧値ベースによる故障診断への適用-
http://hdl.handle.net/10173/441
http://hdl.handle.net/10173/441c296d246-5ac7-4f32-92a2-c7f49d9921d1
名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
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rb6_097-103.pdf (1.1 MB)
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Item type | 紀要論文 / Departmental Bulletin Paper(1) | |||||
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公開日 | 2009-08-31 | |||||
タイトル | ||||||
タイトル | 基板バイアス効果とショート抵抗の導入による診断精度の向上 -電圧値ベースによる故障診断への適用- | |||||
言語 | ||||||
言語 | jpn | |||||
資源タイプ | ||||||
資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_6501 | |||||
資源タイプ | departmental bulletin paper | |||||
著者 |
眞田, 克
× 眞田, 克 |
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著者別名 | ||||||
識別子Scheme | WEKO | |||||
識別子 | 3897 | |||||
姓名 | Sanada, Masaru | |||||
書誌情報 |
高知工科大学紀要 巻 6, 号 1, p. 97-103, 発行日 2009-06-29 |
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ISSN | ||||||
収録物識別子タイプ | ISSN | |||||
収録物識別子 | 1348-4842 | |||||
書誌レコードID | ||||||
収録物識別子タイプ | NCID | |||||
収録物識別子 | AA11954573 | |||||
著者版フラグ | ||||||
出版タイプ | VoR | |||||
出版タイプResource | http://purl.org/coar/version/c_970fb48d4fbd8a85 | |||||
その他のタイトル | ||||||
その他のタイトル | Improvement of Diagnosis Accuracy by Short Fault with Substrate Bias Effect and Resistance Value - Application of Voltage based Fault Diagnosis Technology - | |||||
出版者 | ||||||
出版者 | 高知工科大学 |