WEKO3
アイテム
基板バイアス効果とショート抵抗の導入による診断精度の向上 －電圧値ベースによる故障診断への適用－
http://hdl.handle.net/10173/441
http://hdl.handle.net/10173/441c296d246-5ac7-4f32-92a2-c7f49d9921d1
| 名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
|---|---|---|
rb6_097-103.pdf (1.1 MB)
|
|
| Item type | 紀要論文 / Departmental Bulletin Paper(1) | |||||
|---|---|---|---|---|---|---|
| 公開日 | 2009-08-31 | |||||
| タイトル | ||||||
| タイトル | 基板バイアス効果とショート抵抗の導入による診断精度の向上 －電圧値ベースによる故障診断への適用－ | |||||
| 言語 | ||||||
| 言語 | jpn | |||||
| 資源タイプ | ||||||
| 資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_6501 | |||||
| 資源タイプ | departmental bulletin paper | |||||
| 著者 |
眞田, 克
× 眞田, 克 |
|||||
| 著者別名 | ||||||
| 識別子Scheme | WEKO | |||||
| 識別子 | 3897 | |||||
| 姓名 | Sanada, Masaru | |||||
| 書誌情報 |
高知工科大学紀要 巻 6, 号 1, p. 97-103, 発行日 2009-06-29 |
|||||
| ISSN | ||||||
| 収録物識別子タイプ | ISSN | |||||
| 収録物識別子 | 1348-4842 | |||||
| 書誌レコードID | ||||||
| 収録物識別子タイプ | NCID | |||||
| 収録物識別子 | AA11954573 | |||||
| 著者版フラグ | ||||||
| 出版タイプ | VoR | |||||
| 出版タイプResource | http://purl.org/coar/version/c_970fb48d4fbd8a85 | |||||
| その他のタイトル | ||||||
| その他のタイトル | Improvement of Diagnosis Accuracy by Short Fault with Substrate Bias Effect and Resistance Value - Application of Voltage based Fault Diagnosis Technology - | |||||
| 出版者 | ||||||
| 出版者 | 高知工科大学 | |||||
