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  1. 紀要
  2. 第06巻

基板バイアス効果とショート抵抗の導入による診断精度の向上 -電圧値ベースによる故障診断への適用-

http://hdl.handle.net/10173/441
http://hdl.handle.net/10173/441
c296d246-5ac7-4f32-92a2-c7f49d9921d1
名前 / ファイル ライセンス アクション
rb6_097-103.pdf rb6_097-103.pdf (1.1 MB)
Item type 紀要論文 / Departmental Bulletin Paper(1)
公開日 2009-08-31
タイトル
タイトル 基板バイアス効果とショート抵抗の導入による診断精度の向上 -電圧値ベースによる故障診断への適用-
言語
言語 jpn
資源タイプ
資源タイプ識別子 http://purl.org/coar/resource_type/c_6501
資源タイプ departmental bulletin paper
著者 眞田, 克

× 眞田, 克

眞田, 克

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著者別名
識別子Scheme WEKO
識別子 3897
姓名 Sanada, Masaru
書誌情報 高知工科大学紀要

巻 6, 号 1, p. 97-103, 発行日 2009-06-29
ISSN
収録物識別子タイプ ISSN
収録物識別子 1348-4842
書誌レコードID
収録物識別子タイプ NCID
収録物識別子 AA11954573
著者版フラグ
出版タイプ VoR
出版タイプResource http://purl.org/coar/version/c_970fb48d4fbd8a85
その他のタイトル
その他のタイトル Improvement of Diagnosis Accuracy by Short Fault with Substrate Bias Effect and Resistance Value - Application of Voltage based Fault Diagnosis Technology -
出版者
出版者 高知工科大学
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Ver.1 2023-05-15 13:07:02.856797
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