WEKO3
アイテム
レーザ照射によるオープン故障LSIの倫理の固定化
http://hdl.handle.net/10173/686
http://hdl.handle.net/10173/686a98d5f78-c4b7-4444-aad7-f49eb12ef92f
| 名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
|---|---|---|
rb8_049-056.pdf (1.7 MB)
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| Item type | 紀要論文 / Departmental Bulletin Paper(1) | |||||
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| 公開日 | 2011-07-29 | |||||
| タイトル | ||||||
| タイトル | レーザ照射によるオープン故障LSIの倫理の固定化 | |||||
| 言語 | ||||||
| 言語 | jpn | |||||
| 資源タイプ | ||||||
| 資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_6501 | |||||
| 資源タイプ | departmental bulletin paper | |||||
| 著者 |
眞田, 克
× 眞田, 克× 安富, 泰輝 |
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| 著者別名 | ||||||
| 識別子Scheme | WEKO | |||||
| 識別子 | 4128 | |||||
| 姓名 | SANADA, Masaru | |||||
| 著者別名 | ||||||
| 識別子Scheme | WEKO | |||||
| 識別子 | 4129 | |||||
| 姓名 | YASUTOMI, Taiki | |||||
| 抄録 | ||||||
| 内容記述タイプ | Abstract | |||||
| 内容記述 | 不安定な出力論理を有するフローティング･ゲート故障に対して出力論理値を固定化する実験を行った。実験はゲートオープン故障を作り込んだInverter回路に外部からレーザを照射する方式である。その結果、出力論理は“H”固定した。同時にIDD値も変動した。この変動値は正常状態の特性の動作点に一致した。レーザ照射を止めると特性は元の状態に戻った。この現象を検証するためにゲート電極を共通にしたInverter回路の一方側にレーザを照射し他方側の出力を測定した。その結果“H”に固定した。この実験はレーザを照射することで形成される電子がフローティング･ゲート電極へ入り込み電圧を低下させていると考える。単体Trによるレーザ照射実験と合わせてこの現象を述べる。 | |||||
| 書誌情報 |
高知工科大学紀要 巻 8, 号 1, p. 49-56, 発行日 2011-07-15 |
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| ISSN | ||||||
| 収録物識別子タイプ | ISSN | |||||
| 収録物識別子 | 1348-4842 | |||||
| 書誌レコードID | ||||||
| 収録物識別子タイプ | NCID | |||||
| 収録物識別子 | AA11954573 | |||||
| 著者版フラグ | ||||||
| 出版タイプ | VoR | |||||
| 出版タイプResource | http://purl.org/coar/version/c_970fb48d4fbd8a85 | |||||
| その他のタイトル | ||||||
| その他のタイトル | Logic stabilization of open fault LSI by laser irradiation | |||||
| 出版者 | ||||||
| 出版者 | 高知工科大学 | |||||
