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  1. 紀要
  2. 第08巻

レーザ照射によるオープン故障LSIの倫理の固定化

http://hdl.handle.net/10173/686
http://hdl.handle.net/10173/686
a98d5f78-c4b7-4444-aad7-f49eb12ef92f
名前 / ファイル ライセンス アクション
rb8_049-056.pdf rb8_049-056.pdf (1.7 MB)
Item type 紀要論文 / Departmental Bulletin Paper(1)
公開日 2011-07-29
タイトル
タイトル レーザ照射によるオープン故障LSIの倫理の固定化
言語
言語 jpn
資源タイプ
資源タイプ識別子 http://purl.org/coar/resource_type/c_6501
資源タイプ departmental bulletin paper
著者 眞田, 克

× 眞田, 克

眞田, 克

Search repository
安富, 泰輝

× 安富, 泰輝

安富, 泰輝

Search repository
著者別名
識別子Scheme WEKO
識別子 4128
姓名 SANADA, Masaru
著者別名
識別子Scheme WEKO
識別子 4129
姓名 YASUTOMI, Taiki
抄録
内容記述タイプ Abstract
内容記述 不安定な出力論理を有するフローティング・ゲート故障に対して出力論理値を固定化する実験を行った。実験はゲートオープン故障を作り込んだInverter回路に外部からレーザを照射する方式である。その結果、出力論理は“H”固定した。同時にIDD値も変動した。この変動値は正常状態の特性の動作点に一致した。レーザ照射を止めると特性は元の状態に戻った。この現象を検証するためにゲート電極を共通にしたInverter回路の一方側にレーザを照射し他方側の出力を測定した。その結果“H”に固定した。この実験はレーザを照射することで形成される電子がフローティング・ゲート電極へ入り込み電圧を低下させていると考える。単体Trによるレーザ照射実験と合わせてこの現象を述べる。
書誌情報 高知工科大学紀要

巻 8, 号 1, p. 49-56, 発行日 2011-07-15
ISSN
収録物識別子タイプ ISSN
収録物識別子 1348-4842
書誌レコードID
収録物識別子タイプ NCID
収録物識別子 AA11954573
著者版フラグ
出版タイプ VoR
出版タイプResource http://purl.org/coar/version/c_970fb48d4fbd8a85
その他のタイトル
その他のタイトル Logic stabilization of open fault LSI by laser irradiation
出版者
出版者 高知工科大学
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Ver.1 2023-05-15 13:05:30.152570
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