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  1. 紀要
  2. 第09巻

酸化亜鉛薄膜の欠陥準位密度が薄膜トランジスタの電気特性・信頼性へ与える影響

http://hdl.handle.net/10173/906
http://hdl.handle.net/10173/906
aa9a9cf9-1409-41a1-8f6a-f1d7a005c9af
名前 / ファイル ライセンス アクション
rb9_029_035.pdf rb9_029_035.pdf (874.0 kB)
Item type 紀要論文 / Departmental Bulletin Paper(1)
公開日 2012-10-17
タイトル
タイトル 酸化亜鉛薄膜の欠陥準位密度が薄膜トランジスタの電気特性・信頼性へ与える影響
言語
言語 jpn
資源タイプ
資源タイプ識別子 http://purl.org/coar/resource_type/c_6501
資源タイプ departmental bulletin paper
著者 古田, 守

× 古田, 守

古田, 守

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島川, 伸一

× 島川, 伸一

島川, 伸一

Search repository
著者別名
識別子Scheme WEKO
識別子 4286
姓名 Furuta, Mamoru
著者別名
識別子Scheme WEKO
識別子 4287
姓名 Shimakawa, Shin-ichi
書誌情報 高知工科大学紀要

巻 9, 号 1, p. 29-35, 発行日 2012-07-31
ISSN
収録物識別子タイプ ISSN
収録物識別子 1348-4842
書誌レコードID
収録物識別子タイプ NCID
収録物識別子 AA11954573
著者版フラグ
出版タイプ VoR
出版タイプResource http://purl.org/coar/version/c_970fb48d4fbd8a85
その他のタイトル
その他のタイトル Influence of Density of States of ZnO film on Electrical Properties and Reliability of ZnO Thin-Film Transistors
出版者
出版者 高知工科大学
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Ver.1 2023-05-15 13:04:46.060794
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