WEKO3
アイテム
酸化亜鉛薄膜の欠陥準位密度が薄膜トランジスタの電気特性・信頼性へ与える影響
http://hdl.handle.net/10173/906
http://hdl.handle.net/10173/906aa9a9cf9-1409-41a1-8f6a-f1d7a005c9af
| 名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
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rb9_029_035.pdf (874.0 kB)
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| Item type | 紀要論文 / Departmental Bulletin Paper(1) | |||||
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| 公開日 | 2012-10-17 | |||||
| タイトル | ||||||
| タイトル | 酸化亜鉛薄膜の欠陥準位密度が薄膜トランジスタの電気特性・信頼性へ与える影響 | |||||
| 言語 | ||||||
| 言語 | jpn | |||||
| 資源タイプ | ||||||
| 資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_6501 | |||||
| 資源タイプ | departmental bulletin paper | |||||
| 著者 |
古田, 守
× 古田, 守× 島川, 伸一 |
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| 著者別名 | ||||||
| 識別子Scheme | WEKO | |||||
| 識別子 | 4286 | |||||
| 姓名 | Furuta, Mamoru | |||||
| 著者別名 | ||||||
| 識別子Scheme | WEKO | |||||
| 識別子 | 4287 | |||||
| 姓名 | Shimakawa, Shin-ichi | |||||
| 書誌情報 |
高知工科大学紀要 巻 9, 号 1, p. 29-35, 発行日 2012-07-31 |
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| ISSN | ||||||
| 収録物識別子タイプ | ISSN | |||||
| 収録物識別子 | 1348-4842 | |||||
| 書誌レコードID | ||||||
| 収録物識別子タイプ | NCID | |||||
| 収録物識別子 | AA11954573 | |||||
| 著者版フラグ | ||||||
| 出版タイプ | VoR | |||||
| 出版タイプResource | http://purl.org/coar/version/c_970fb48d4fbd8a85 | |||||
| その他のタイトル | ||||||
| その他のタイトル | Influence of Density of States of ZnO film on Electrical Properties and Reliability of ZnO Thin-Film Transistors | |||||
| 出版者 | ||||||
| 出版者 | 高知工科大学 | |||||
