WEKO3
アイテム
準静電界センシングによるLSI内部構造の評価
http://hdl.handle.net/10173/1414
http://hdl.handle.net/10173/1414aea22ae7-8271-4174-a1f1-3f4ad6a20bc3
名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
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rb10_113-120.pdf (1.5 MB)
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Item type | 紀要論文 / Departmental Bulletin Paper(1) | |||||
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公開日 | 2016-11-15 | |||||
タイトル | ||||||
タイトル | 準静電界センシングによるLSI内部構造の評価 | |||||
言語 | ||||||
言語 | jpn | |||||
資源タイプ | ||||||
資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_6501 | |||||
資源タイプ | departmental bulletin paper | |||||
著者 |
眞田, 克
× 眞田, 克× 伊藤, 誠吾 |
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著者別名 | ||||||
識別子Scheme | WEKO | |||||
識別子 | 4415 | |||||
姓名 | SANADA, Masaru | |||||
著者別名 | ||||||
識別子Scheme | WEKO | |||||
識別子 | 4416 | |||||
姓名 | ITO, Seigo | |||||
内容記述 | ||||||
内容記述タイプ | Other | |||||
内容記述 | 研究ノート | |||||
書誌情報 |
高知工科大学紀要 巻 10, 号 1, p. 113-120, 発行日 2013-07-20 |
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ISSN | ||||||
収録物識別子タイプ | ISSN | |||||
収録物識別子 | 1348-4842 | |||||
書誌レコードID | ||||||
収録物識別子タイプ | NCID | |||||
収録物識別子 | AA11954573 | |||||
著者版フラグ | ||||||
出版タイプ | VoR | |||||
出版タイプResource | http://purl.org/coar/version/c_970fb48d4fbd8a85 | |||||
その他のタイトル | ||||||
その他のタイトル | Evaluation of LSI Inner Structure by Using Quasi-static Electrical Field Sensing Technology | |||||
出版者 | ||||||
出版者 | 高知工科大学 |