WEKO3
アイテム
Built-In Self-Test Techniques for Data Converter in Analog and Mixed-Signal Circuits
http://hdl.handle.net/10173/940
http://hdl.handle.net/10173/94043a9f3bc-294e-4dd0-aebd-1a16ce41b69a
| 名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
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1138007940.pdf (2.6 MB)
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| Item type | 学位論文 / Thesis or Dissertation(1) | |||||||
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| 公開日 | 2012-12-04 | |||||||
| タイトル | ||||||||
| タイトル | Built-In Self-Test Techniques for Data Converter in Analog and Mixed-Signal Circuits | |||||||
| 言語 | ||||||||
| 言語 | eng | |||||||
| 資源タイプ | ||||||||
| 資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_46ec | |||||||
| 資源タイプ | thesis | |||||||
| 著者 |
YUAN, Jun
× YUAN, Jun
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| 内容記述 | ||||||||
| 内容記述タイプ | Other | |||||||
| 内容記述 | 高知工科大学博士(工学) 平成24年9月28日授与(甲第226号) | |||||||
| 引用 | ||||||||
| 内容記述タイプ | Other | |||||||
| 内容記述 | 高知工科大学, 博士論文. | |||||||
| 書誌情報 | 発行日 2012-09 | |||||||
| 著者版フラグ | ||||||||
| 出版タイプ | AM | |||||||
| 出版タイプResource | http://purl.org/coar/version/c_ab4af688f83e57aa | |||||||
| 出版者 | ||||||||
| 出版者 | 高知工科大学 | |||||||
| アドバイザー | ||||||||
| 橘,昌良 | ||||||||
| 学位授与番号 | ||||||||
| 学位授与番号 | 26402甲第226号 | |||||||
