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  1. 学術雑誌論文

Voltage-based fault path tracing by transistor operating point analysis

http://hdl.handle.net/10173/523
http://hdl.handle.net/10173/523
da4e79d1-b8cd-46d4-a00c-b46735be5580
名前 / ファイル ライセンス アクション
microrel_48_8-9_1533.pdf microrel_48_8-9_1533.pdf (408.8 kB)
Item type 学術雑誌論文 / Journal Article(1)
公開日 2010-09-02
タイトル
タイトル Voltage-based fault path tracing by transistor operating point analysis
言語
言語 eng
キーワード
主題Scheme Other
主題 Diagnosis
キーワード
主題Scheme Other
主題 Impedance
キーワード
主題Scheme Other
主題 Fault path tracing
キーワード
主題Scheme Other
主題 Transistor operating point analysis
キーワード
主題Scheme Other
主題 Voltage
資源タイプ
資源タイプ識別子 http://purl.org/coar/resource_type/c_6501
資源タイプ journal article
著者 Sanada, Masaru

× Sanada, Masaru

Sanada, Masaru

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抄録
内容記述タイプ Abstract
内容記述 A novel diagnosis method has been developed based on transistor operating point analysis. The method is worked by the way of fault logic propagation trace based on voltage value and the way of operation time setting of each gate circuit. The former way is to detect penetration current net result from fault, replace the net with impedance net, calculate voltage value of each node of the impedance net by OHM’s low, and then sequentially trace the fault logic propagation. The latter way is to set a standardized operation time at each gate circuit, and then, the virtual terminal is prepared at output point of gate unit. The proposed method makes it possible to detect not only signal propagation of each gate in order of time, but oscillation phenomenon brought by feedback fault.
書誌情報 Microelectronics Reliability

巻 48, 号 8-9, p. 1533-1538, 発行日 2008-08
ISSN
収録物識別子タイプ ISSN
収録物識別子 0026-2714
書誌レコードID
収録物識別子タイプ NCID
収録物識別子 AA00738419
DOI
関連タイプ isVersionOf
識別子タイプ DOI
関連識別子 10.1016/j.microrel.2008.07.055
権利
権利情報 Copyright © 2008 Elsevier Ltd All rights reserved.
著者版フラグ
出版タイプ AM
出版タイプResource http://purl.org/coar/version/c_ab4af688f83e57aa
出版者
出版者 Elsevier
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Ver.1 2023-05-15 13:45:55.550069
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