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Control of Interfacial and Bulk Defects in In–Ga–Zn–O Thin-Film Transistors toward Flexible Electronics
http://hdl.handle.net/10173/1984
http://hdl.handle.net/10173/198419c8b6dd-73db-4f6c-b8bc-0284946b78f5
| 名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
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審査結果の要旨 (194.8 kB)
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論文内容の要旨 (210.3 kB)
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| Item type | 学位論文 / Thesis or Dissertation(1) | |||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 公開日 | 2018-12-19 | |||||||
| タイトル | ||||||||
| タイトル | Control of Interfacial and Bulk Defects in In–Ga–Zn–O Thin-Film Transistors toward Flexible Electronics | |||||||
| 言語 | ||||||||
| 言語 | eng | |||||||
| 資源タイプ | ||||||||
| 資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_46ec | |||||||
| 資源タイプ | thesis | |||||||
| 著者 |
AMAN, S G Mehadi
× AMAN, S G Mehadi
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| 引用 | ||||||||
| 内容記述タイプ | Other | |||||||
| 内容記述 | 高知工科大学, 博士論文. | |||||||
| 書誌情報 | 発行日 2018-09 | |||||||
| 出版者 | ||||||||
| 出版者 | 高知工科大学 | |||||||
| アドバイザー | ||||||||
| 古田,守 | ||||||||
| 学位名 | ||||||||
| 学位名 | 博士（工学） | |||||||
| 学位授与機関 | ||||||||
| 学位授与機関名 | 高知工科大学 | |||||||
| 学位授与年月日 | ||||||||
| 学位授与年月日 | 2018-09-25 | |||||||
| 学位授与番号 | ||||||||
| 学位授与番号 | 26402甲第336号 | |||||||
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Cite as
AMAN, S G Mehadi, 2018, Control of Interfacial and Bulk Defects in In–Ga–Zn–O Thin-Film Transistors toward Flexible Electronics: 高知工科大学.
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