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  1. 学位論文(博士)

Defect-oriented Built-In Self-Test for Analog Mixed-Signal Circuits

https://doi.org/10.32149/0002000021
https://doi.org/10.32149/0002000021
9b86d498-3e18-4e21-9938-ba8aea358087
名前 / ファイル ライセンス アクション
1248003.pdf 博士論文全文 (3.7 MB)
1248003-1.pdf 論文内容の要旨 (170 KB)
1248003-2.pdf 審査結果の要旨 (211 KB)
Item type 学位論文 / Thesis or Dissertation(1)
公開日 2023-11-01
タイトル
タイトル Defect-oriented Built-In Self-Test for Analog Mixed-Signal Circuits
言語 en
言語
言語 eng
資源タイプ
資源タイプ識別子 http://purl.org/coar/resource_type/c_db06
資源タイプ doctoral thesis
ID登録
ID登録 10.32149/0002000021
ID登録タイプ JaLC
著者 TANG Xiaobin

× TANG Xiaobin

en TANG Xiaobin

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アドバイザー
en
Prof. TACHIBANA Masayoshi
学位授与機関
言語 ja
学位授与機関名 高知工科大学
学位授与年度
ja
2023年度
学位授与年月日
学位授与年月日 2023-09-20
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Ver.1 2023-11-07 05:44:09.033690
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