WEKO3
アイテム
Defect-oriented Built-In Self-Test for Analog Mixed-Signal Circuits
https://doi.org/10.32149/0002000021
https://doi.org/10.32149/00020000219b86d498-3e18-4e21-9938-ba8aea358087
| 名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
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博士論文全文 (3.7 MB)
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論文内容の要旨 (170 KB)
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審査結果の要旨 (211 KB)
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| Item type | 学位論文 / Thesis or Dissertation(1) | |||||||
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| 公開日 | 2023-11-01 | |||||||
| タイトル | ||||||||
| タイトル | Defect-oriented Built-In Self-Test for Analog Mixed-Signal Circuits | |||||||
| 言語 | en | |||||||
| 言語 | ||||||||
| 言語 | eng | |||||||
| 資源タイプ | ||||||||
| 資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_db06 | |||||||
| 資源タイプ | doctoral thesis | |||||||
| ID登録 | ||||||||
| ID登録 | 10.32149/0002000021 | |||||||
| ID登録タイプ | JaLC | |||||||
| 著者 |
TANG Xiaobin
× TANG Xiaobin
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| アドバイザー | ||||||||
| 言語 | en | |||||||
| 値 | Prof. TACHIBANA Masayoshi | |||||||
| 学位授与機関 | ||||||||
| 言語 | ja | |||||||
| 学位授与機関名 | 高知工科大学 | |||||||
| 学位授与年度 | ||||||||
| 言語 | ja | |||||||
| 値 | 2023年度 | |||||||
| 学位授与年月日 | ||||||||
| 学位授与年月日 | 2023-09-20 | |||||||
